西安普瑞光学仪器有限公司是一家集开发、生产和销售为一体的高新技术企业，主要从事光、机、电一体化等尖端精密测量仪器以及纳米技术等相关领域的研发工作，公司地处西安高新技术产业开发区留学人员创业园，由归国留学人员创办。公司技术力量雄厚，现拥有资深留学归国博士2名，硕士6名，本科生16位，属于高素质、高科技型技术企业。
我公司技术研究人员经过十多年在国外研究机构的工作和学习，在光学干涉测量领域积累了丰富的开发研制经验，目前我们已研制开发出拥有自主核心技术产权的PR-L06表面精密形状测量仪，此项技术填补了国内此领域的技术空白，是目前国内唯一一家利用白光干涉原理测量物体表面微细形状，其精度能达到1纳米的企业，此技术在国际竞争中处于领先水平。该类仪器可用于测量MEMS基板、液晶显示器面板（LCD）、等离子体显示器面板（PDP）、半导体集成电路、有机发光显示器面板（EL）、等样品的表面三维立体细微形状结构。与同类测量仪器相比，它具有非接触，非破坏，高精度，快速测量等特长，并能实时动态画面显示结果。（EL）、等样品的表面三维立体细微形状结构。与同类测量仪器相比，它具有非接触，非破坏，高精度，快速测量等特长，并能实时动态画面显示结果。
本公司贯彻“科学管理、研制精品、保护环境、珍爱生命、持续发展”的管理方针和“求实、守信、开拓、发展”的企业精神，努力在研发领域开拓。公司依靠雄厚的技术力量、先进的管理模式和高素质的管理人才，是目前国内唯一一家集研发、生产、销售及售后服务、技术支持为一体的高科技企业。我公司不断在研发领域开拓，力争保持或超越世界同步水准，为客户永远提供世界一流的产品！
目前我公司诚招全国各地代理经销商！
产品简介
PR-L05是目前功能极强的表面形状测量仪之一，具有高精密度和准确度，可用于测量MEMS基板，液晶显示器面板（LCD、CF、阵列、单元）、等离子体显示器面板（PDP前面板、背面板、隔离罩掩膜、单元）、半导体集成电路（半导体氧化膜保护膜膜厚、三维测量、厚度测量、平坦度测量）、有机发光显示器面板（EL）等样品的表面三维立体微细形状结构。
与同类测量仪器相比，它具有 非接触、非破坏测量；高速、高精度测量；高稳定性、适用于生产线的实时测量；可以测量倾斜分布表面结构。
白光干涉仪PR-L05(表面形状测量仪、轮廓仪）
重复精度：50纳米 10纳米 5纳米三种
联系方式： 029-88332313 13630233261
联 系 人： 成武 chengwu_1984@163.com
网 址： http://www.xapurui.com
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